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材料表面形貌分析

原子力显微镜（AFM）
椭偏仪 (VB-400)
扫描探针显微镜（SPI3800N)
FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜（TEM）
JEM-2010高分辨透射电子显微镜（TEM）
场发射扫描电子显微镜 (Zeiss Merlin ）

相变及热性质分析

岛津热分析仪（Thermal Analyzer）
耐驰同步热分析仪(TG-DSC)
岛津热分析仪（TG）

材料磁电学性能分析

阻抗分析仪 (Agilent 4294A )
顺磁共振波谱仪(EPR)
PPMS (综合物性测量系统）
磁性测量系统（MPMS SQUID VSM）
美国Radiant公司 RTI-铁电测试系统

有机物材料成分与结构分析

有机元素分析仪（CHNS）
400MHz液体核磁（NMR）

材料空隙孔径性能分析

多功能吸附仪（TPR）
Master-60型全自动孔隙度仪（压汞仪）
高性能研究级比表面及孔径分析仪(BET)
马尔文激光粒度仪
麦克2020气体吸脱附仪(BET)
比表面与孔隙度分析仪（BET）

材料元素成分与结构分析

紫外可见光分光光度计(UV3600)
X射线衍射仪——X’Pert PRO（XRD）
理学X射线衍射仪（XRD）
高分辨回旋共振质谱仪(ICR-MS)
岛津X射线荧光光谱（XRF)
安捷伦7890A-5975C气质联用仪

瞬态激发光谱分析

雷尼绍拉曼光谱仪（Raman）
傅里叶变换显微红外光谱仪（FTIR）
X射线光电子能谱(AXIS ULTRA DLD)
UV2700 紫外可见分光光度计
HORIBA显微激光拉曼光谱仪 (LabRAM HR Evolution）

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