无机材料元素成分分析

我司拥有X射线光电子能谱（XPS），理学X射线衍射仪（XRD），帕纳科X射线衍射仪（xrd），岛津X射线荧光光谱（XRF)等设备，可对无机样品成分和结构进行全方位分析

序号	类别	项目/参数
1	X射线光电子能谱（XPS)	可对样品进行预处理（高真空、氮气保护H2，空气等不同气氛的处理），原位的测定处理前后样品的表面元素的分布及价态变化。
2	理学X射线衍射仪（XRD）	X射线发生器功率为3KW 测角仪最小步进为1/10000度步长：0.02 扫速：4度/分
3	帕纳科X射线衍射仪(XRD)	功率：3Kw 测角仪重现性：0.0001度发散度：<0.01度最小步长<0.0001度测角仪的精确度<0.0001度
4	岛津X射线荧光光谱（XRF)	可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。