扫描探针显微镜（SPI3800N)
仪器名称 | 扫描探针显微镜 (SPI3800N） |
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型号 | 日本精工 SPI3800N | |
主要规格 及技术指标 | 1. 分辨率：水平 0.1 nm，垂直0.01 nm | |
材料要求 | 二维原子薄膜、原子平整基底表面镀膜的形貌表征和电、磁性能分析（长宽高控制在15 ╳ 15 ╳ 2 mm内） | |
主要功能 及应用范围 | 目前全球商用的唯一一款真正专业级高真空环境控制型SPM， 不但具备多功能扫描探针显微镜系统所有功能；而且扫描在封闭的Chamber中进行，可对测量的环境（高真空、高温、低温、液体、电化学等）进行控制；可实现AFM、DFM、STM、MFM、EFM、KFM、C-AFM等功能，可连续变温，温度范围：-120 - 800℃。 | |
测试项目 | AFM、DFM表面形貌分析 MFM、FFM、EFM、KFM测试等 I-V、Force-Curve测试 薄膜样品和需要制样的固体样品 可测试-120 - 800℃温度区间内的数据 | |
