X射线光电子能谱(XPS)
仪器名称 | X射线光电子能谱(XPS) |
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型号 | 赛默飞舍尔 (Thermol scientific) Escalab 250Xi | |
主要规格 及技术指标 | 1.能量分辨率和灵敏度(正常工作条件下):对Ag3d5/2峰,半峰宽优于0.45 eV时,计数率强度高于80 Kcps; 2. 除了Mg靶外,配备了Al/Mg双阳极X射线源, 可精确判定俄歇电子谱; 3.测试类型:XPS,刻蚀试验,绝缘材料半导体材料(配备中和枪),线扫描,面扫描 角分辨率实验,深度剖析实验,REELs实验(主要测定H元素),ISS离子散射实验(同位素测定),UPS紫外电子能谱。5*5mm | |
主要功能 及应用范围 | 可对样品进行预处理(高真空、氮气保护H2,空气等不同气氛的处理),原位的测定处理前后样品的表面元素的分布及价态变化。 | |
收费标准 | 280元/样品 (1:不包括分峰拟合;2:关注5元素内,超出加收50-100元;氩离子清洁或刻蚀加请另咨询) | |
检测说明 | XPS能谱仪通用测试条件:美国 Thermo ESCALAB 250XI X光电子能谱(XPS):单色Al Ka (hv =1486.6 eV),功率150W , 500μm束斑 | |
备注 | 如需关注元素的不同轨道请提前说明,如无说明,我们将按照仪器的默认轨道测试,完成后如需再测其他轨道按新样品计费。 |