X射线光电子能谱(AXIS ULTRA DLD)

型号

日本岛津-Kratos公司

AXIS ULTRA DLD

主要规格

及技术指标

1. 大束斑slot模式下能量分辨率：优于0.48 eV/(Ag 3d5/2)@400 kcps；

2. 最小15μm分析区域下能量分辨率：优于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@0.65 kcps；

3. 110μm分析区域下能量分辨率：优于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@75 kcps；

4. 荷电中和系统：优于0.68 eV/(PET上O-C=O的C 1s)@15 kcps；

5. 空间分辨率：优于3 μm。

材料要求

块体试样两面尽量平整，易于放置在样品台上，尺寸小于15*15 mm2，厚度小于4mm；粉末试样颗粒小，易于压片或贴在胶带。

主要功能

及应用范围

主要功能：利用光电效应的原理，测量辐射源（光子、电子、离子等）从样品上打出来的光电子的动能、强度及其角分布，从而研究原子、分子、聚集相，尤其是固体表面的电子结构等。

应用范围：用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析，表面元素的化学成像及深度剖析。

测试项目

300元/样 （5元素内，超出加收50-100元，注：5元素中包括C）

其它要求另外商谈。