X射线衍射仪——X’Pert PRO（XRD）

型号

 帕纳科

X’Pert PRO

主要规格

及技术指标

功率：3Kw

测角仪重现性：0.0001度

发散度：<0.01度

最小步长<0.0001度

测角仪的精确度<0.0001度

材料要求

主要功能

及应用范围

 高级材料科学和纳米技术，半导体材料研究和生产质量控制，可以适用各种应用，尤其适合薄膜分析，例如： 摇摆曲线分析和倒易空间Mapping， 反射率和薄膜相分析，残余应力和织构分析， X'Pert PRO MRD/ XL 满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

收费标准

广角测试（5-90度）        50元/样

小角测试（0.5-5度）        100元/样